JitaiL'investimentu recente di COXEM EM-30AX PLUS hà rivoluzionatu a so capacità di assicurà chì u cuntrollu di qualità hè u cumpunente cintrali di a so spinta per guadagnà una quota di mercatu più grande.
U SEM d'alta precisione (Scanning Electron Microscope) di COXEM hè un strumentu cuncepitu per osservà parti infinitamente chjuche di materiale di mostra.Pò ottene l'imaghjini in profondità è in focus à livelli di ingrandimentu estremamente elevati (finu à 150.000x).Unu di i numerosi benefici di COXEM EM-30AX PLUS hè chì usa un fasciu di elettroni cù una corta lunghezza d'onda.Questu hè particularmente efficace per ottene una alta risoluzione aghjustendu a tensione di accelerazione, a distanza di travagliu è a dimensione di u fasciu di elettroni.
L'EM-30AX PLUS hè un aghjurnamentu da l'EM30PLus chì permette analisi morfologiche avanzate.U vantaghju principali di a versione aghjurnata hè chì permette l'installazione di microanalisi miniaturizzata direttamente in u dispusitivu.Questu dàJitaia capacità di analizà i materiali sia nantu à una basa morfologica è cumpusizioni.U detettore EDS permette à identificà un locu problematicu o mappe l'inseme di l'elementi chimichi prisenti in a mostra.L'EM-30AX Plus hè capace di una risoluzione di 5nm, chì guarantisci chì a qualità pò esse microanalizata è dunque assicurata ancu à u nano-livellu.A so abbundante tensione operativa si trova trà 1 è 30 kV.Cum'è tali, hè largamente applicabile in i campi di a nanotecnologia, a carattarizazione di metalli, è l'alliati, è cuntribuisce assai àJitaia ricerca incessante di capacità di produzzione senza saldatura.